晶圆级应用
裸片级应用
元器件级应用
选配件
DMW-6/8/12手动双面晶圆探针台适用于需要正面和背面同时探针连接的双面晶圆测试;
可应用于光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等。