晶圆级应用
裸片级应用
元器件级应用
选配件
适用于需要正面和背面同时探针连接的双面晶圆、双面器件的自动化探针测试；
可应用于I-V/C-V、射频/毫米波、功率测试等；
独家先进的视觉识别算法系统，引导探针自动进行位置校正和通道切换；
正反面Pad点三维精确测量；
正反面多探针智能校正对位。
