晶圆级应用
裸片级应用
元器件级应用
选配件
适用于裸片、载片、堆叠芯片等单片类产品的批量自动探针测试,同时也可应用于QFN、BGA等表贴封装器件批量自动探针测试;
具备单片自动上下料功能,支持膜盒、华夫盒、扩晶环等多种来料选配项;
Pad三维精确测量、探针智能补偿对位、Softtouch软接触保证扎针的准确性和稳定性;
双Chuck盘并行测试,提升测试效率;
无人值守自动测试分选,降低使用成本。