成都云绎智创科技有限公司
CHENGDU AATSR TECHNOLOGY CO.,LTD.
KGD-341芯片测试分选机
产品详情
  • 适用于IGBT、SiC、GaN Mosfet等功率芯片Die级性能指标测试与外观筛选，提高芯片封装的成品率

  • 支持静态参数1、雪崩耐压、动态参数、静态参数2的多工位并行测试

  • 支持Socket和Probe测试连接方式

  • 支持常温~200℃范围的常高温测试

  • 支持 3000V/200A 静态测试、2000V/1000A 动态测试和外观检测

  • 支持多种来料和收料方式：蓝膜、料盒、编带等