晶圆级应用
裸片级应用
元器件级应用
选配件
适用于晶圆测试、光电器件测试、IC测试、射频测试、高压大电流的手动探针测试。
高品质显微镜搭配高分辨率CCD系统,可清晰观察扎痕情况,提高扎针的准确性和扎针效率;
针座磁吸固定可根据测试晶圆的不同进行适时调节;
台面支持一键升降,使操作流程简单快捷;
Chuck盘可以完全拉出台面,方便晶圆快速取放。