双面晶圆/芯片/SiP/AiP组件自动探针测试
组件级测试分选应用
某客户采用我公司 DSW系列双面探针台搭载思仪3674H矢网测试系统，完成 Ka波段6″/8″ 双面晶圆、双面芯片、双面SiP/AiP组件多探针自动化测试。设备配备正反面高品质显微镜与高分辨率 CCD 系统，并采用独有的 AOI和AutoXY 技术实现 正面、反面引导电动探针进行PAD位置校正和通道切换，使用SoftTouch 软接触技术保证DUT形变下每支探针的连接稳定性，为双面DUT产品高频探针测试提供了完美的解决方案。