射频SiP组件开盖断点调/测试
组件级测试分选应用
某客户采用 ICP-EX 多功能单片探针台，搭载keysight矢网仪表实现 SiP 组件在开盖状态的多探针断点调测试，为复杂SIP组件封盖前自动测试提供了全新的解决方案。此项目的难点在于DUT底部通过 Socket自动连接，正面使用VP测试探针在狭小空间内进行高频连接测试。系统集成SIP组件自动上下料单元、双面测试探针台、显微镜视觉系统、高精度测试夹具、多电动测试探针，依次完成未封盖DUT上料、精确装入 Socket 并压紧、正面 PAD 点坐标自动识别、多探针自动校准、对位、扎针，最终根据测试结果自动分选装盒。