SiP组件三温自动测试分选试
高低温自动测试分选应用
某客户采用我公司 FCT系列箱式三温分选机，对单面SiP组件、双面SiP组件在开盖、封盖两种状态下，自动完成DUT三温测试与分选，温度范围支持 -55℃~125℃&150℃。本系统采用温箱提供稳定的测试环境，测试全过程在封闭温箱内完成，无温变、无结霜，测试结果严格满足GJB要求，同时，系统采用独家专利高低温视觉技术，既保证高低温环境下运动机构的定位精度达到±0.05mm，又能完成产品OCR识别与测试工位防呆。相较于温度波动明显的平移式多温区分选机，此方案的测试结果更可信，成本更低廉（仅需 200L/min 干燥空气，无高价值专用KIT限制）。