适用于6″/8″晶圆、晶圆残片、单片类产品的自动探针测试
支持裸片、载片、SIP组件等单片类产品从Gel Pack、Waffle Pack、Wafer Ring自动取料
独有的AOI识别补偿技术实现单芯片在二维坐标上的误差采集,为芯片产品Pad点高度精确独立对
位提供保障,通过电动探针座自动实现精准扎针
选配-60°C~+200℃/+300℃高低温卡盘及温控系统,为晶圆或单芯片产品提供稳定的高低温测试环境